【YAMAHA】YRi-V

可實現超高速、高精度的3D檢查、面向所有SMT市場的萬能型光學式外觀檢查設備。通過追加配備同軸照明、5μm鏡頭,還可對應設備市場領域的高精度檢查。

  • 超高速3D檢查56.8cm 2 /sec(本公司最佳條件下)

  • 超高精度3D檢查8方向投影裝置
  • 4方向斜視圖像檢查2,000萬像素的4方向斜視相機
  • 設備檢查超高分辨率5µm/同軸照明

 

 

基本規格

機型 YRi-V自動光學檢測設備
對象基板尺寸 L610 × W610(最大)~ L50 × W50(最小)(單軌機型時)
※支持L750mm超長基板(選配)
基板可搬入的元件高度 上面:45mm 底面:85mm(單軌機型時)
最大3D測量高度 25mm
相機像素 1,200萬像素
4方向斜視相機像素
3D檢查速度(最佳條件下)
2,000萬像素
4方向投影裝置 12μm分辨率規格 7μm分辨率規格 5μm分辨率規格
56.8cm²/s 19.6cm²/s 10.1cm²/s
外形尺寸(突起部除外) L1,252 x W1,497 x H1,614mm
主體重量 1,480kg

因改良需要,規格及外觀可能會有所變更,恕不另行通知。