【YAMAHA】YRi-V
可實現超高速、高精度的3D檢查、面向所有SMT市場的萬能型光學式外觀檢查設備。通過追加配備同軸照明、5μm鏡頭,還可對應設備市場領域的高精度檢查。
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超高速3D檢查56.8cm 2 /sec(本公司最佳條件下)
- 超高精度3D檢查8方向投影裝置
- 4方向斜視圖像檢查2,000萬像素的4方向斜視相機
- 設備檢查超高分辨率5µm/同軸照明
基本規格
機型 | YRi-V自動光學檢測設備 | ||
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對象基板尺寸 | L610 × W610(最大)~ L50 × W50(最小)(單軌機型時) ※支持L750mm超長基板(選配) |
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基板可搬入的元件高度 | 上面:45mm 底面:85mm(單軌機型時) | ||
最大3D測量高度 | 25mm | ||
相機像素 | 1,200萬像素 | ||
4方向斜視相機像素 3D檢查速度(最佳條件下) |
2,000萬像素 | ||
4方向投影裝置 | 12μm分辨率規格 | 7μm分辨率規格 | 5μm分辨率規格 |
56.8cm²/s | 19.6cm²/s | 10.1cm²/s | |
外形尺寸(突起部除外) | L1,252 x W1,497 x H1,614mm | ||
主體重量 | 1,480kg |
因改良需要,規格及外觀可能會有所變更,恕不另行通知。